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  ¿¬±¸°³¹ß   ±â¼ú¿µ¾÷   »ý»ê°ü¸®   ³×Æ®¿öÅ©   ¸ð¹ÙÀÏ   ÇÁ·Î±×·¡¸Ó
 
°³ÀÎ ±â¾÷ ½áÄ¡Æß
 
 
 
 
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   ¾÷Á¾  Á¦Á¶¾÷(ÀüÀÚ/Àü±â/¹ÝµµÃ¼/µð½ºÇ÷¹ÀÌ)   ÀÚº»±Ý  1200 ¾ï ¸¸¿ø
   ¸ÅÃâ¾×  1Á¶ 5824¾ï   »ç¿ø¼ö  6071
¼³¸³³âµµ  1968³â   »óÀå¿©ºÎ  ºñ»óÀå
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1. ¾ÚÄÚÅ×Å©³î·ÎÁöÄÚ¸®¾Æ °³¿ä

¼¼°è ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ¹× Å×½ºÆ® »ê¾÷À» ¼±µµÇÏ´Â ±Û·Î¹ú ±â¾÷

¾ÚÄÚÅ×Å©³î·ÎÁöÄÚ¸®¾Æ(ÀÌÇÏ ¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ)´Â ¹Ì±¹ÀÇ Amkor Technology, Inc.(ÀÌÇÏ Amkor)ÀÇ Çѱ¹¹ýÀÎÀ¸·Î ÇöÀç ±¤ÁÖ±¤¿ª½Ã, ÀÎõ±¤¿ª½Ã ºÎÆò°ú ¼Ûµµ 3°÷¿¡ ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ¹× Å×½ºÆ® »ç¾÷ÀåÀ» µÎ°íÀÖ´Ù. ¹Ì±¹ ¾Æ¸®Á¶³ªÁÖ ÅÛÇÇ¿¡ º»»ç¸¦ µÐ Amkor´Â 1968³â ¹ÝµµÃ¼ »ç¾÷À» ½ÃÀÛÇÏ¿© Çѱ¹À» ºñ·ÔÇÑ 8°³±¹ 22°³ »ý»ê±âÁö, 30,000¿© ¸íÀÇ ÀÓÁ÷¿øÀÌ ±Ù¹«ÇÏ´Â ¼¼°èÀû ±â¾÷À¸·Î, ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡1) ¹× Å×½ºÆ® »ê¾÷À» ¼±µµÇÏ´Â ±Û·Î¹ú±â¾÷ÀÌ´Ù.
â¾÷ ÀÌ·¡ ¹Ý¼¼±â µ¿¾È ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ¹× Å×½ºÆ® »ê¾÷À» ¼±µµÇØ ¿Â ³ôÀº ±â¼ú·ÂÀ» ±Ù°£À¸·Î ±Û·Î¹ú ¿ì·®±â¾÷À¸·Î ¼ºÀåÇØ ¿Â ¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â ½ÅÀÇ(ãáëù)¸¦ ¹ÙÅÁÀ¸·Î »ç¿ø°ú °í°´ÀÇ Çູ°ú ¹ø¿µÀ» Ãß±¸ÇÏ´Â ±â¾÷À» ÁöÇâÇÏ°í ÀÖÀ¸¸ç, ÀÎõ½Ã °æÁ¦ÀÚÀ¯±¸¿ª ¼Ûµµ±¹Á¦¾÷¹«´ÜÁö¿¡ ¾à 56,000Æò ±Ô¸ðÀÇ ºÎÁö¿¡ ¼¼°è ÃÖ°í ¼öÁØÀÇ ±Û·Î¹ú R&D ¼¾ÅÍ¿Í ÃÖ÷´Ü ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ »ý»ê¶óÀÎÀ» ÁØ°øÇÔÀ¸·Î½á, ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ¹× Å×½ºÆ® Àü¹®±â¾÷À¸·Î¼­ ¶Ç ÇѹøÀÇ µµ¾àÀ» ÁغñÇÏ°í ÀÖ´Ù.
¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â °í°´À» À§ÇÑ °¡Ä¡ âÁ¶·Î °í°´°ú ÇÔ²² ¼ºÀåÇÏ´Â ¡®°í°´ÁöÇ⡯, ¹ÝµµÃ¼ ¹Ì·¡¸¦ ½ÇÇöÇÏ´Â ¡®±â¼úÇõ½Å¡¯, »ç¿øÀ» °¡Àå ¼ÒÁßÇÑ ÀÚ»êÀ¸·Î ¿©±â´Â ¡®ÀÎÀç°æ¿µ¡¯, ½ÅÀǸ¦ ÁöÅ°¸ç ÇÔ²² ¼ºÀåÇÏ´Â ¡®»ó»ý°æ¿µ¡¯À» °æ¿µÀ̳äÀ¸·Î Ãß±¸ÇÏ°í ÀÖ´Ù. ´õºÒ¾î °¡Ä¡Ã¢ÃâÀÇ ±Ø´ëÈ­·Î ȸ»ç¿Í °³ÀÎÀÇ ¹ßÀüÀº ¹°·Ð, ÀÏ°ú »îÀÇ ±ÕÇüÀ» ÅëÇØ ±Ã±ØÀûÀ¸·Î »ç¿ø, ȸ»ç, Çù·Â¾÷ü, Áö¿ª»çȸ°¡ ´Ù °°ÀÌ ÇູÇØÁö´Â ºñÀüÀ» ½ÇÇöÇÏ°íÀÚ ÇÑ´Ù.

2. ÁÖ¿ä ¼ºÀå Àü·«

ÀÚµ¿È­¿Í ¹«°áÁ¡ Ç°Áú·Î Â÷º°È­

¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â °¥¼ö·Ï Ä¡¿­ÇØÁö´Â ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ½ÃÀå¿¡¼­ Å©°Ô µÎ °¡Áö Àü·«À» ÅëÇØ °æÀï Â÷º°È­¸¦ µµ¸ðÇÏ°í ÀÖ´Ù. ù ¹ø°´Â ÃÖ÷´Ü ¼Ûµµ»ç¾÷ÀåÀ» ºñ·ÔÇÏ¿© Àü »ç¾÷Àå¿¡ °øÁ¤°ú °øÁ¤ °£ »ç¶÷ÀÇ ¼ÕÀ» °ÅÄ¡Áö ¾Ê°í ÀÚµ¿È­ÇÏ´Â ¹°¸®ÀûÀÎ ÀÚµ¿È­»Ó¸¸ ¾Æ´Ï¶ó, ¿ÀÅä Ç÷¡´× ½Ã½ºÅÛ(Auto Planning System)°ú ÀÚµ¿ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ(Auto Inspection System), ½º¸¶Æ® ÄܼÖ(Smart Console), ºò µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼® µîÀÇ ½Ã½ºÅÛÀûÀÎ ÀÚµ¿È­¸¦ ÅëÇØ Ç°Áú, °¡µ¿·ü, ³³±â µî¿¡¼­ ȹ±âÀûÀÎ °æÀï¿ìÀ§¸¦ È®º¸ÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù. µÎ ¹ø°´Â ¸ðµç »ç¾÷ÀåÀ» ÇÑ Ä¡ÀÇ ¿ÀÂ÷µµ Çã¿ëÇÏÁö ¾Ê´Â ÀÚµ¿Â÷ ¹ÝµµÃ¼ (Automotive) Á¦Á¶È¯°æ ¹× »ý»ê¿ª·®À» °®Ãá Á¦·Î µðÆåÆ® Ä÷¸®Æ¼(Zero Defect Quality)¸¦ ±¸ÇöÇÏ´Â ¹«°áÁ¡ »ç¾÷Àå, ½º¸¶Æ® ÆÑÅ丮·Î °Åµì³ª´Â °ÍÀÌ´Ù.

3. ºñÀü

¹ÝµµÃ¼ 100³â ±â¾÷À¸·Î ¿ì¶Ò ¼±´Ù

¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â ±Ý³âÃÊ ¾ç»ê¿¡ µ¹ÀÔÇÑ ¡®K5 ¼Ûµµ»ç¾÷Àå ¹× ±Û·Î¹ú R&D ¼¾ÅÍ¡¯¸¦ Áß½ÉÀ¸·Î Áö³­ ¹Ý¼¼±âÀÇ °æÇè°ú ±Û·Î¹ú ¸®´õ½ÊÀ» Åä´ë·Î ¡®¹ÝµµÃ¼ 100³â ±â¾÷¡¯À» ¸ñÇ¥ÇÏ°í ÀÖ´Ù. Amkor°¡ ±Û·Î¹ú R&D ¼¾ÅÍ ¹× »ý»ê±âÁö¸¦ ÀÎõ ¼Ûµµ¿¡ °Ç¸³ÇÏ°Ô µÈ °ÍÀº ¼¼°è ÃÖ´ëÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ½ÃÀåÀÎ Áß±¹¿¡ ÀÎÁ¢ÇØ ÀÖ´Ù´Â Áö¸®Àû ÀÌÁ¡°ú ±Ù°Å¸®¿¡ ±¹Á¦°øÇ×ÀÌ À§Ä¡ÇÔÀ¸·Î½á ÇØ¿Ü °í°´À» À§ÇÑ ¹°·ùȯ°æÀÌ ¶Ù¾î³­ °÷À̱⠶§¹®ÀÌ´Ù. ¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â ¼Ûµµ»ç¾÷Àå¿¡ Áö¼ÓÀûÀÎ ÅõÀÚ¸¦ ÅëÇØ °íºÎ°¡°¡Ä¡ Á¦Ç° ¾ç»ê¶óÀÎÀ» °®Ãß°í Á÷Á¢ °í¿ëÀ» È®´ëÇØ ³ª°¥ °èȹÀ̸ç, ¾ÚÄÚ ±Û·Î¹ú R&D¼¾ÅÍ¿Í ´õºÒ¾î ¿¬±¸°³¹ß Àü¿ëÀÇ ÆÄÀÏ·µ Lab ¶óÀÎÀ» ¿î¿µÇÔÀ¸·Î½á ¹ÝµµÃ¼ ÇÙ½É ¿øõ±â¼ú°ú ¿ì¼ö ¿¬±¸Àη Ȯº¸¸¦ ÅëÇÑ ±â¼ú °æÀï·Â ¿ìÀ§¸¦ º¸´Ù È®°íÈ÷ ´ÙÁú ¿¹Á¤ÀÌ´Ù. ¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â ¼Ûµµ»ç¾÷ÀåÀ» ±Û·Î¹ú ¾ÚÄÚ ³» ÃÖ´ë ±Ô¸ðÀÇ »ç¾÷ÀåÀ¸·Î À°¼ºÇÏ°í, ÇöÀç ¼¼°è 2À§ÀÎ ¾ÚÄÚÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ¹× Å×½ºÆ® ½ÃÀåÁ¡À¯À²À» ¼ö³â ³» 1À§·Î ²ø¾î ¿Ã¸®´Â µ¥µµ ¾ÕÀå ¼³ °èȹÀÌ´Ù.


4. ÃÖ±Ù ¹ÝµµÃ¼ ½ÃÀå Æ®·»µå¿Í ÆÐŰ¡ ±â¼ú

¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ±â¼úÀÇ Á߿伺 ³ª³¯ÀÌ Áõ°¡
µðÀÚÀο¡¼­ »ý»ê, ³³Ç°±îÁö Full Turnkey Solution Á¦°ø

½º¸¶Æ®Æù, IoT (»ç¹°ÀÎÅͳÝ), AI (ÀΰøÁö´É), Automotive (ÀÚÀ²ÁÖÇàÀÚµ¿Â÷) µîÀ» Æ÷ÇÔÇÑ ÀüÀÚ ¹× IT ±â±â°¡ ±Þ¼Óµµ·Î °íµµÈ­µÇ°í °æ¹Ú´Ü¼ÒÈ­µÇ¸é¼­, ÇϳªÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ÆÐÅ°Áö¿¡ ´Ù¼öÀÇ Ä¨°ú ºÎÇ°À» ÁýÀûÇÏ´Â ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ±â¼úÀÇ Á߿伺ÀÌ ´õ¿í ºÎ°¢µÇ°í ÀÖ´Ù. µû¶ó¼­ À̸¦ ±¸ÇöÇØ ÁÖ´Â ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ±â¼úÀÎ WLP (Wafer Level Packaging, ¿þÀÌÆÛ ·¹º§ ÆÐŰ¡)¿Í SiP (System in Package, ½Ã½ºÅÛ ÀÎ ÆÐÅ°Áö)¿¡ ´ëÇÑ ±â¼ú·ÂÀÌ °æÀï·ÂÀÇ ÁÖ¿ä ¿ä°ÇÀÌ µÇ°í ÀÖ´Ù. ¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â Ŭ·¡½º 100ÀÇ ÃÊûÁ¤ Ŭ¸°·ë(Clean Room)À» °®Ãá ÃÖ÷´Ü ¼Ûµµ»ç¾÷Àå¿¡¼­ °íµµÀÇ ÆÐŰ¡ ±â¼úÀÌ ¿ä±¸µÇ´Â Advanced SiP¿Í Advanced WLP, High Density Fan-Out ÆÐÅ°Áö¸¦ ¾ç»êÇÔÀ¸·Î½á ÀÌ·¯ÇÑ ½ÃÀåÀÇ ¿ä±¸¿¡ ¹ßºü¸£°Ô ´ëóÇÏ°í ÀÖ´Ù. ¶ÇÇÑ, ¾ÚÄÚÄÚ¸®¾Æ´Â ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ¿¬±¸°³¹ß, ÆÐÅ°Áö ¼³°è, ÆÐŰ¡, Å×½ºÆ®, Dropship ¼­ºñ½º±îÁö Full Turnkey Solution (Ç®ÅÏÅ°¼Ö·ç¼Ç)À» Á¦°øÇÏ°í ÀÖ´Ù.
±â¾÷ÇüÅ ¿Ü±¹°è±â¾÷ °í¿ëÇüÅ Á¤±ÔÁ÷ ±Ù¹«Áö ±¤ÁÖ
ÃÖÁ¾Çз ´ëÇб³(4³â) ¸ðÁý±â°£ ä¿ë½Ã ¸¶°¨ µî·ÏÀÏ 2021-01-05
 
Çз °æ·Â ¿¬·É ¼ºº° ä¿ëÀοø ¿ì´ëÁ¶°Ç
´ëÇб³(4³â) ¹«°ü ¹«°ü ¹«°ü 0¸í ÇØ´ç¾øÀ½
 
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     °í¿ëÇüÅ Á¤±ÔÁ÷

     ¾÷¹«³»¿ë/ÀÚ°Ý¿ä°Ç

¸ðÁýºÎºÐ ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç
¸ðÁýºÎºÐ ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç Á¤º¸
¸ðÁýºÎ¹®½ÅÀÔ/°æ·Â´ã´ç¾÷¹«ÀÚ°Ý¿ä°Ç¸ðÁýÀοø±Ù¹«Áö
RFTest SW(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • HW Test Software and Auto Test
  • H/W Firmware Programming
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • Àü±âÀüÀÚ ¶Ç´Â Àü»ê °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • Python, C++ Áß 1°³ ¾ð¾î ÀÌ»ó ´É·ÂÇʼö
  • Linux, Mac OS È°¿ë ¿ì¼öÀÚ ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
RFSimulation(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • RF Circuit Design & Simulation
  • SI/PI Analysis & Simulation
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • Àü±âÀüÀÚ °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • SI/PI ºÐ¾ß Àü°ø ¶Ç´Â RF/Åë½Å Àü°øÇϽŠºÐ ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
RF HW(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • RF H/W °³¹ß ¹× Test
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ÀÚ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • ÀüÀÚ, ÀüÆÄ ¶Ç´Â Àü±â °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • RF system ¶Ç´Â Digital/Analog °³¹ß¾÷¹« °æ·Â ¿ì´ë
  • SoC(system on Chip) testdevelopment engineer ¾÷¹« °æ·Â¿ì´ë
  • Embedded system °³¹ß °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
Semiconductor Testing(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ TEST °³¹ß (SoC)
  • System Level Test °³¹ß (IoT,Audio, Phone, Automotive)
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ÀÚ ¹× ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • Àü±â, ÀüÀÚ, ¹ÝµµÃ¼, Åë½Å °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼ Å×½ºÆ® °³¹ß °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
Semiconductor Packaging(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ Package ¼ÒÀç ¹× °øÁ¤ °³¹ß
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼, Àü±â, ÀüÀÚ, ½Å¼ÒÀç, È­ÇÐ, È­°ø°ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼ package(fcCSP, fcBGA, SiP,WLP, 2.5D, CIS) ¼ÒÀç ¹× °øÁ¤ °³¹ß°æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
Simulation(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ Package ¹× System LevelSimulation
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼, Àü±â, ÀüÀÚ, ¹°¸®, ±â°è, ½Å¼ÒÀç, È­ÇÐ, È­°ø °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • Thermal, mechanical, electricalsimulation °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
Semiconductor WaferFabrication(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ Wafer °øÁ¤ °³¹ß ¹×Package °øÁ¤ °³¹ß
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼, Àü±â, ÀüÀÚ, ½Å¼ÒÀç, È­ÇÐ, È­°ø, ¹°¸®, ±â°è °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • Wafer °øÁ¤, ¹ÝµµÃ¼ package °øÁ¤ °³¹ß °ü·Ã °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
Semiconductor Material(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ Wafer °øÁ¤ ¼ÒÀç °³¹ß ¹×Package ¼ÒÀç °³¹ß
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼, Àü±â, ÀüÀÚ, ½Å¼ÒÀç, È­ÇÐ, È­°ø, ¹°¸®, ±â°è °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • Wafer °øÁ¤, ¹ÝµµÃ¼ Package °øÁ¤ °³¹ß ¹× °ü·Ã ¼ÒÀç °³¹ß °ü·Ã °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
Semiconductor Analysis(¹Ú»ç)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ ºÐ¼® ±â¼ú °³¹ß
  • ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿¹Á¤ ¶Ç´Â ¼ÒÁöÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼, Àü±â, ÀüÀÚ, ½Å¼ÒÀç, È­ÇÐ, È­°ø, ¹°¸®, ±â°è °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • ¹ÝµµÃ¼ ºÐ¼® °ü·Ã °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
Engineer(Test)°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ µð¹ÙÀ̽º ¾ç»ê Test Áö¿ø
  • Test ȯ°æ °³¹ß ¹× ½Å±â¼ú µµÀÔ
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • Àü±â, ÀüÀÚ, ¹ÝµµÃ¼ °ü·Ã Àü°øÀÚ
  • ¿µ¾î È°¿ë ¿ì¼öÀÚ ¿ì´ë
  • ÀϺ»¾î, Áß±¹¾î È°¿ë °¡´ÉÀÚ ¿ì´ë
0¸íÀÎõ±¤¿ª½Ã
Engineer(Assy)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ Package »ý»ê¶óÀÎ ÃÖÀûÈ­°øÁ¤ ±¸Ãà (Àåºñ Á¶°Ç, SystemDesign ¹× °ü¸® ¹æÇâ ¼³Á¤)
  • ¹ÝµµÃ¼ Package Á¦Á¶ °øÁ¤Áö½ÄÀ»¹ÙÅÁÀ¸·Î °í°´ ¿äû ¹× »ç¾çÀ» Á¶»ç
  • °í°´ ¿äû »çÇ×À» ½ÇÇöÇϱâ À§Çѱâ¼úÁö¿ø ¹× Process Design À籸¼º ¾÷¹« ¼öÇà
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • °øÇÐ/ÀÌÇа迭 Àü°øÇϽŠºÐ
  • ¿µ¾î·Î ÀÇ»ç¼ÒÅëÀÌ °¡´ÉÇϽŠºÐ
0¸í±¤ÁÖ±¤¿ª½ÃÀÎõ ¼Ûµµ
°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • (°øÅë) °í°´ Project & NPI Çڵ鸵 °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • Wafer Back Grinding °øÁ¤ °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • L/G & Wafer Saw °øÁ¤ °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • Chip Attach °øÁ¤ °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • SMT °øÁ¤ °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • EMI Shielding °øÁ¤ °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • Laser cut °øÁ¤ °æÇèÀÚ
  • Mold, Underfill °øÁ¤ °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • ¼öµ¿¼ÒÀÚ °æÇè 2³â ÀÌ»ó
  • EOL °øÁ¤ °æÇè 3³â ÀÌ»ó (PKG Saw,Ball Attach)
0¸í
°í°´¸¸Á·(PCS)½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • Á¦Á¶, ¹°·ù, °í°´ ¼öÁÖ Coordination
  • Production Control ¾÷¹«
  • °í°´°ü¸® ¹× Communication ¾÷¹«
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • Àü°ø¹«°ü
  • ÀÌ°ø°è(»ê¾÷°øÇÐ, Åë°è µî) ¿ì´ë
  • ¿µ¾î, ÀϺ»¾î, Áß±¹¾î È°¿ë °¡´ÉÀÚ ¿ì´ë
0¸í±¤ÁÖ±¤¿ª½Ã
Àλç°ü¸®½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • Àλç¹ß·É, Àοø°ü¸®, ä¿ë, ±Þ¿©
  • Àλç/±Þ¿©°ü¸® ¹× Áö¿ø ¾÷¹«
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • ±Û·Î¹ú ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶¾÷ ȸ»çÀÇ Àλç¾÷¹«¿¡ °ü½É ÀÖ´Â ºÐ
  • ¿µ¾î È°¿ë ´É·Â ¿ì¼öÇÑ ºÐ ¿ì´ë
  • ÀϺ»¾î/Áß±¹¾î È°¿ë °¡´ÉÇÑ ºÐ ¿ì´ë
0¸í±¤ÁÖ±¤¿ª½ÃÀÎõ ¼Ûµµ
º¸°Ç½ÅÀÔ(Á¤±ÔÁ÷)
  • »ç¾÷Àå º¸°Ç°ü¸®ÀÚ ¹ýÀû ¼±ÀÓ ¹×°ü·Ã¾÷¹« ÀÏü
  • ÀϹÝ, Ư¼ö°ËÁø ½Ç½Ã ¹× ÇÁ·Î±×·¥°ü¸®
  • ÀÛ¾÷ȯ°æÃøÁ¤ ¹× °ü¸®
  • MSDS °ü¸®, Á÷¹«½ºÆ®·¹½º Æò°¡ °ü¸®
  • ±âŸ »ç¾÷Àå ³» º¸°Ç°ü¸® ¹× ±³À°¾÷¹«
  • ¾ÈÀüº¸°ÇÇаú ¶Ç´Â °ü·ÃÇаú Àü°øÀÚ
  • »ê¾÷À§»ý»ê¾÷±â»ç/±â»ç ÀÚ°ÝÁõ º¸À¯ÀÚ (»ê¾÷¾ÈÀü, À§Çè¹° ÀڰݼÒÁöÀÚ ¿ì´ë)
  • TOEIC 700Á¡ ÀÌ»ó ¶Ç´Â ±×¿¡ »óÀÀÇÏ´Â ¾îÇмºÀû º¸À¯ÀÚ
0¸íÀÎõ ºÎÆò
RF HW°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • RF H/W Engineering
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • ÀüÀÚ, ÀüÆÄ ¶Ç´Â Àü±â Àü°øÇϽŠºÐ
  • RF System ¶Ç´Â Digital/Analog °³¹ß °æ·Â ¶Ç´Â Áö½Ä ¿ì´ë
  • Smart Phone, IoT Device(Bluetooth/WiFi/Lora etc.) µî RF °ü·Ã °³¹ß °æÇèÀÚ ¿ì´ë
  • RF ½Ã½ºÅÛ ¼³°è ¹× °¢Á¾ Å×½ºÆ® °æÇ躸À¯ÀÚ ¿ì´ë
  • SoC(System on Chip) TestDevelopment Engineer ¾÷¹« °æ·Â¿ì´ë
  • Embedded System °³¹ß °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
RF Test SW°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • RF Test SW Engineering
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • Àü»ê °ü·Ã Àü°øÇϽŠºÐ
  • Python, C++ Áß 1°³ ¾ð¾î ÀÌ»ó ´É·Âº¸À¯ÇϽŠºÐ
  • RF Bench Test Program °³¹ß °æÇè¿ì´ë
  • RF/EE Test Equipment ÀÚµ¿È­ ¾÷¹«°æÇè ¿ì´ë
  • Linux, MacOS È°¿ë ¿ì¼öÀÚ ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
RF Simulation°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • RF Simulation Engineering
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • SI/PI ºÐ¾ß Àü°ø Áö½Ä º¸À¯ ¹× Siwave/PowerSI/ADS µî °ü·Ã SimulationTool »ç¿ë °æÇè Çʼö
  • DDR Interface Simulation ¹× SI/PIDebugging °¡´ÉÇϽŠºÐ
  • PDN Debugging °æÇè º¸À¯ÀÚ ¿ì´ë
  • IBIS AMI/Spice °æ·Â ¿ì´ë
  • High Speed SerDes Application °ü·Ã °æ·Â ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
TEST °³¹ß°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • ¹ÝµµÃ¼ TEST °³¹ß (RF, Mixed)
  • System Level Test °³¹ß (IoT,Audio, Phone, Automotive)
  • Àü±â, ÀüÀÚ, ¹ÝµµÃ¼, Åë½Å °ü·Ã ÇаúÀü°øÀÚ
  • ¹ÝµµÃ¼ RF Design, Simulation,Tuning °æ·Â ¿ì´ë
  • ¹ÝµµÃ¼ Å×½ºÆ® °³¹ß ¾÷¹« °æ·Â ¿ì´ë
  • Soc(System on Chip), System level engineering, Firmware °³¹ß °æ·Â¿ì´ë
0¸íÀÎõ ºÎÆò
Engineer(Substrate)°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • Substrate(PCB) °³¹ß, NPI, HVM°ü·Ã ±â¼ú Áö¿ø¾÷¹«
  • Substrte new technology & New supplier °³¹ß Project
  • Assembly Process¿Í °ü·ÃµÈSubstrate ±â¼ú/Ç°Áú¹®Á¦ °³¼±Project
  • Packaging technlogy trend¿¡µû¸¥ Substrate ±â¼úµ¿Ç⠺м®
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • ¹°¸®, È­ÇÐ, È­°ø, Àç·á, ¹ÝµµÃ¼, ±â°è µî ÀÌ°ø°è¿­À» Àü°øÇϽŠºÐ
  • ¿µ¾î, ÀϺ»¾î, Áß±¹¾î È°¿ë °¡´ÉÇϽŠºÐ ¿ì´ë
0¸í±¤ÁÖ±¤¿ª½Ã
EEFA(ElectricalEngineeringFailure Analysis)°æ·Â(Á¤±ÔÁ÷)
  • System in Package(SiP) Bring up, ¼º´É°ËÁõ ¹× ºÒ·®ºÐ¼®
  • Application Processor IC, PMIC, Audio IC, MEMS sensors,Bluetooth, etc.
  • SiP/System on Chip(SoC) Å×½ºÆ® º¸µå Á¦ÀÛ ¹× ¼º´É ÃÖÀûÈ­
  • ´Ù±¹Àû °í°´»ç ÇÁ·ÎÁ§Æ®ÀÇ ºÒ·® ºÐ¼®, º¸°í¼­ ÀÛ¼º ¹× ±â¼ú Áö¿ø
  • Advanced SiP/SoC Á¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ¿¬±¸°³¹ß
  • Çлç ÀÌ»óÀÇ ÇзÂÀ» º¸À¯ÇϽŠºÐ
  • Digital/Analog System °³¹ß °æ·Â 5³â ÀÌ»ó
  • Test Equipment(Oscilloscope, SMU, DMM, Logic analyzer) »ç¿ë Çʼö
  • Allegro, OrCAD ¹× PCB layout °ü·Ã ¾÷¹« °æÇè ¹× Áö½Ä Çʼö
  • General communications(QSPI, I2C, UART, USB, etc.) ¾÷¹«°æÇè ¹× ÀÌÇØÇʼö
  • ¿µ¾î ´É·Â(Email, Documentation,°í°´ ÀüÈ­ ¹ÌÆÃ) Çʼö
  • Smartphone, Wireless headset µî°³¹ß ¾÷ü baseband engineering°æ·Â ¿ì´ë
  • SiP/SoC test development,Embedded system engineering°æ·Â ¿ì´ë
  • Firmware, Python, C programing°æÇè ¿ì´ë
0¸íÀÎõ ¼Ûµµ
±â¾÷ ·Î°í

Áö¿øÀÚ°Ý

  • ÇØ¿Ü¿©Çà °á°Ý»çÀ¯°¡ ¾ø´Â ºÐ
  • 2021³â 3¿ù¿¡ ÀԻ簡´ÉÇϽŠºÐ (2021³â 2¿ù Á¹¾÷¿¹Á¤ÀÚ Æ÷ÇÔ)
±â¾÷ ·Î°í

Á¢¼ö±â°£

  • 2020. 12. 24.(¸ñ) ~ 2021. 1. 7.(¸ñ) 23:59 ±îÁö

    ¹Ú»çÀÇ °æ¿ì À§ Á¢¼ö±â°£¿¡ ¿ì¼± ä¿ëÇϳª, ¸¶°¨ ÀÌÈÄ¿¡µµ ä¿ë ȨÆäÀÌÁö¿¡¼­ º°µµ ÀÎÀç PoolÀ» ¿î¿µÇÔ

±â¾÷ ·Î°í

Á¢¼ö¹æ¹ý

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     ÁÖ¼Ò (610-06) ±¤ÁÖ ºÏ±¸ ¾ÚÄÚ·Î 100 (´ëÃ̵¿) (´ëÃ̵¿)
  

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